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HP24高温探针台

高温探针测试仪,用于芯片、气敏元器件等在不同气氛环境下电学性能,也可用于材料分析。

特点:

  • 升温速度可精确控制,精度达±0.25℃

  • 体积小巧,占地空间小

  • 真空漏率优秀,真空度高

  • 探针种类丰富,可根据用户需求进行定制

  • 模块化设计,可根据客户要求定制

  • 超高温,升温速度快

用途:

广泛应用于半导体电学性能测试、物理研究、气敏分析、锂电池测试、LED、LCD、二维材料测试、电镜扫描、太阳能电池等行业的制造和研究领等系统中的重要部件。

产品指标:

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