深圳市江麦智能科技有限公司
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半导体冷热测试仪，用于芯片、气敏元器件等在不同气氛环境下电学性能，也可用变温光学测试、变温电学测试、材料表征等分析。
升温速度可精确控制，精度达±0.25℃
体积小巧，占地空间小
无噪声、无振动、体积小、重量轻
支持与各类显微镜、光谱仪等光学仪器设备
模块化设计，可根据客户要求定制
无需液氮制冷耗材
广泛应用于半导体电学性能测试、物理研究、气敏分析、锂电池测试、LED、LCD、二维材料测试、电镜扫描、太阳能电池等行业的制造和研究领等系统中的重要部件。
