
江麦智能 HL22 冷热台测试仪是一款集超低温至高温宽温区控温、多探针测试、多气氛适配于一体的专业测试设备,分 HL22-4(4 探针)、HL22-6(6 探针)两大基础款,主打控温精度高、升温速度可精准调控、体积小巧的核心特点,支持探针与模块个性化定制。设备可实现芯片、气敏元器件等样品在不同气氛环境下的高低温电学性能测试与材料分析,广泛应用于半导体、锂电池、LED/LCD、太阳能电池等行业的制造与研究环节,是宽温区光电、电学性能测试的核心配套设备。
搭载进口温控系统,实现 -190℃~450℃ 超宽温区覆盖,高温段控制精度达 ±0.25℃,低温段最高精度 ±0.5℃,分辨率均为 0.1℃;升温速度可精确调控,能快速稳定至目标温度,精准模拟各类极端温区环境,满足样品高低温性能测试的全场景需求。
标配 4 探针、6 探针两种核心配置,4 探针满足常规高低温电学性能测试,6 探针适配多触点精细化测试,无需额外改装设备,一台即可覆盖不同复杂度的测试需求,适配科研与生产的多元测试场景。
探针组件分真空型同轴(V2)、三轴(V3)接口夹具,三轴款抗干扰性强,适配半导体及军用级高精度测试;探针为镀金材质,规格覆盖 1μm-200μm 全档位,可根据样品尺寸精准选配,完美满足微小型元器件的高低温精细化触点测试。
腔体外尺寸仅 160mm×90mm×52mm,腔体容积 75mL,30mm×30mm 样品台设计,整体精密小巧、占地空间极小,实验室操作台、电镜扫描配套、生产线检测工位等狭小空间均可灵活放置,兼顾操作便捷性与空间利用率。
整机采用模块化设计,腔体默认 AL6061 材质可定制 SUS304 不锈钢,6mm 进气口可按需定制规格,真空系统、温控模块、观测配件均可灵活选配;氟胶圈密封设计搭配 KF16 抽气口,可适配常规、真空等多种气氛测试,无场景适配盲区。
配套体式显微镜、200 万像素 CCD、21 寸戴尔显示器等全套观测配件,可选单 / 双头信号线缆、20L 液氮杜瓦罐、水冷机(温度>154℃需配置),覆盖高低温控温、样品观测、信号采集、超低温补冷、高温散热全流程,无需额外搭配设备,一站式完成高低温测试作业。
HL22 冷热台核心分 HL22-4(4 探针)、HL22-6(6 探针) 两款,基础主体配置完全一致,仅探针数量不同,全系列配件均支持按需选配,实现高低温测试需求的个性化定制,核心配置如下:
1. 基础主体:默认 AL6061 腔体(可定制 SUS304),氟胶圈密封,KF16 抽气口、标配 BNC 电信采集接口,6mm 进气口(可定制),75mL 腔体容积,30mm×30mm 样品台、35mm 样品观察窗;
2. 探针与线缆:V2 同轴真空夹具、V3 三轴抗干扰夹具二选一,镀金探针 1-200μm 全规格可选,信号线缆分 R1 单头甩空线、R2 双头线;
3. 温控与辅冷散热:HG 高温(常温~450℃)、LC 抽取式高低温(-190~450℃)、LZ 增压式高低温(-190~450℃,含液氮泵)三选一,可选 D20 液氮杜瓦罐(-196℃~ 室温),温度>154℃选配 W 水冷机;
4. 真空系统:MP 飞跃机械泵(1×10⁻¹Pa)、TG KYKY 分子泵组(5×10⁻⁴Pa)、TP 莱宝分子泵组(5×10⁻⁵Pa,配 PTR90 复合真空计)三档可选,莱宝款需搭配不锈钢腔体;
5. 观测配件:PM 体式显微镜、CM 200 万像素 CCD、DP 21 寸戴尔显示器、SJ 视频显微镜(100 万像素 + 10 寸屏)按需选配。
温控范围从 - 190℃超低温延伸至 450℃高温,不同精度的高低温控制器可选,可模拟各类极端温区环境,替代多款单一温区测试设备,大幅降低设备投入成本。
高温段 ±0.25℃、低温段最高 ±0.5℃的控温精度,搭配 0.1℃高分辨率,精准把控测试温区,有效避免温度波动导致的测试误差,为科研与生产提供真实、可靠的高低温测试数据。
可选真空型三轴接口探针夹具,抗电磁干扰能力突出,适配半导体、军用级高精度高低温测试;镀金探针接触性佳,有效减少高低温环境下的信号损耗,保障触点测试的精准性。
氟胶圈高密封设计搭配可定制的 SUS304 不锈钢腔体,既保障高低温环境下的设备密封性,又能适配腐蚀性、高真空等特殊测试环境,满足常规、真空、惰性气体等多气氛下的高低温测试。
HL22 冷热台凭借 -190℃~450℃宽温区、±0.25℃高精度控温、多探针适配、高定制化的核心优势,成为各领域高低温光电、电学性能测试的优选设备,广泛应用于半导体高低温电学性能测试、锂电池高低温特性检测、LED/LCD 高低温研发测试、物理材料高低温分析、气敏元器件高低温检测、太阳能电池高低温品控 等领域,既适配高校、研究所的宽温区科研攻关测试,也能满足企业生产线的高低温精密检测需求,为各领域的产品研发与质量把控提供精准、稳定的测试数据支撑。